Crystallization and electrical resistivity of Cu <inf>2</inf>O and CuO obtained by thermal oxidation of Cu thin films on SiO <inf>2</inf>/Si substrates

L. De Los Santos Valladares, D. Hurtado Salinas, A. Bustamante Dominguez, D. Acosta Najarro, S. I. Khondaker, T. Mitrelias, C. H.W. Barnes, J. Albino Aguiar, Y. Majima

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Crystallization and electrical resistivity of Cu <inf>2</inf>O and CuO obtained by thermal oxidation of Cu thin films on SiO <inf>2</inf>/Si substrates'. En conjunto forman una huella única.

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