High red emission intensity of Eu:Y2O3 films grown on Si(1 0 0)/Si(1 1 1) by electron beam evaporation

V. A.G. Rivera, F. A. Ferri, J. L. Clabel H., M. A. Pereira-Da-Silva, L. A.O. Nunes, M. Siu Li, E. Marega

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'High red emission intensity of Eu:Y2O3 films grown on Si(1 0 0)/Si(1 1 1) by electron beam evaporation'. En conjunto forman una huella única.

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