Multilayered samples reconstructed by measuring K<inf>α</inf>/K <inf>β</inf> or L<inf>α</inf>/L<inf>β</inf> X-ray intensity ratios by EDXRF

Roberto Cesareo, Joaquim T. De Assis, Clodoaldo Roldán, Angel D. Bustamante, Antonio Brunetti, Nick Schiavon

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Multilayered samples reconstructed by measuring K<inf>α</inf>/K <inf>β</inf> or L<inf>α</inf>/L<inf>β</inf> X-ray intensity ratios by EDXRF'. En conjunto forman una huella única.

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