Multilayered samples reconstructed by measuring Kα/K β or Lα/Lβ X-ray intensity ratios by EDXRF

Roberto Cesareo, Joaquim T. De Assis, Clodoaldo Roldán, Angel D. Bustamante, Antonio Brunetti, Nick Schiavon

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

39 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Multilayered samples reconstructed by measuring Kα/K β or Lα/Lβ X-ray intensity ratios by EDXRF'. En conjunto forman una huella única.

Ingeniería y ciencia de los materiales

Física y astronomía