Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Small angle X-ray diffraction study of a-Si:H/a-Ge:H multilayers: Reflectivity modeling and thermal stability'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Small angle X-ray diffraction study of a-Si:H/a-Ge:H multilayers: Reflectivity modeling and thermal stability
E. L. Zeballos-Velásquez, M. C.A. Fantini
Resultado de la investigación: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
5
Citas
(Scopus)