The structure of two-layered objects reconstructed using EDXRF-analysis and internal X-ray ratios

Roberto Cesareo, Giovanni Buccolieri, Alfredo Castellano, Ricardo T. Lopes, Joaquim T. De Assis, Stefano Ridolfi, Antonio Brunetti, Angel Bustamante

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'The structure of two-layered objects reconstructed using EDXRF-analysis and internal X-ray ratios'. En conjunto forman una huella única.

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