Understanding the electronic properties of BaTiO<inf>3</inf>and Er<sup>3+</sup>doped BaTiO<inf>3</inf>films through confocal scanning microscopy and XPS: The role of oxygen vacancies

J. L. Clabel H., Iram T. Awan, G. Lozano, M. A. Pereira-Da-Silva, R. A. Romano, V. A.G. Rivera, S. O. Ferreira, E. Marega

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Understanding the electronic properties of BaTiO<inf>3</inf>and Er<sup>3+</sup>doped BaTiO<inf>3</inf>films through confocal scanning microscopy and XPS: The role of oxygen vacancies'. En conjunto forman una huella única.

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